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400-8090-6261 質譜法定義 ：是將待測物質置于離子源中電離形成帶電離子，讓離子加速并通過磁場或電場后，離子將按質荷比(m/z)大小分離，形成質譜圖。依據質譜線的位置和質譜線的相對強度建立的分析方法稱為質譜法。
2 質譜的作用 ：準確測定物質的分子量;質譜法是唯一可以確定分子式的方法;根據碎片特征進行化合物的結構分析。
3 質譜分析的基本原理 ：質譜法是利用電磁學原理，將待測樣品分子解離成具有不同質量的離子，然后按其質荷比(m/z)的大小依次排列收集成質譜。根據質譜中的分子離子峰(M?+)可以獲得樣品分子的相對分子質量信息;根據各離子峰(分子離子峰、同位素離子峰、碎片離子峰、亞穩離子峰、重排離子峰等)及其相對強度和氮數規則，可以確定化合物的分子式;根據各離子峰及物質化學鍵的斷裂規律可以進行定性分析和結構分析;根據組分質譜峰的峰高與濃度間的線性關系可以進行定量分析。
4 質譜分析的過程 ：（1）進樣，化合物通過汽化引入電離室;（2）離子化，在電離室，組分分子被一束加速電子碰撞，撞擊使分子電離形成正離子;（3）離子也可因撞擊強烈而形成碎片離子;（4）荷正電離子被加速電壓V加速，產生一定的速度v，與質量、電荷及加速電壓有關;（5）加速正離子進入一個強度為B的磁場(質量分析器)，發生偏轉。
5 質譜儀的組成 ：真空系統、進樣系統、離子源或電離室、質量分析器、離子檢測器。
6 真空系統作用 ：是減少離子碰撞損失。若真空度低：大量氧會燒壞離子源的燈絲;會使本底增高，干擾質譜圖;引起額外的離子-分子反應，改變裂解模型，使質譜解釋復雜化;干擾離子源中電子束的正常調節;用作加速離子的幾千伏高壓會引起放電等。
7 進樣系統目的 ：高效重復地將樣品引入到離子源中并且不能造成真空度的降低。間歇式進樣系統——氣體及低沸點、易揮發的液體;直接探針進樣——高沸點的液體、固體;色譜進樣系統——有機化合物。
8 離子源或電離室： 作用是使試樣中的原子、分子電離成離子，其性能影響質譜儀的靈敏度和分辨率本領。8電子電離源的特點：電離電壓：70eV;加一小磁場增加電離幾率;EI源電離效率高,碎片離子多，結構信息豐富，有標準化合物質譜庫;結構簡單，操作方便;樣品在氣態下電離，不能汽化的樣品不能分析，主要用于氣-質聯用儀;有些樣品得不到分子離子。
9 化學電離源特點 ：電離能小，質譜峰數少，譜圖簡單;最強峰為(M+1)+準分子離子峰;不適用難揮發試樣。
10 快原子轟擊源 ：高能量的Xe原子轟擊涂在靶上的樣品，濺射出離子流。本法適合于高極性、大分子量、低蒸汽壓、熱穩定性差的樣品。 FAB一般用作磁式質譜的離子源。
11 電噴霧源結構 ：噴嘴(金屬毛細管)，霧化氣，干燥氣。原理：噴霧蒸發電壓。特點：ESI是最軟的一種電離方式，只產生分子離子，不產生碎片離子;適用于強極性，大分子量的樣品分析，如肽，蛋白質，糖等;產生的離子帶有多電荷，尤其是生物大分子;主要用于液相色譜-質譜聯用儀，既用作液相色譜和質譜儀之間的接口裝置，同時又是電離裝置。
12 場致電離源(FI) 和場解吸電離源(FD) ：分子離子峰強;:碎片離子峰少;不適合化合物結構鑒定。
13 基質輔助激光解吸電離特點 ：準分子離子峰很強，且碎片離子少。通常用于飛行時間質譜，特別適合測定多肽、蛋白質、DNA片段、多糖等的相對分子質量。
14 質量分析器作用 ：將離子源產生的離子按質荷比m/z的大小分開。
15 單聚焦分析器： 離子的m/z與R,B, V有關。通過改變磁場可以把不同離子分開。-在一定磁感應強度B下，改變加速電壓V可以使不同離子先后通過檢測器，實現質量掃描，得到質譜。特點：結構簡單，操作方便;只有方向聚焦，無能量聚焦，分辨率低。
16 雙聚焦分析器 ：實現方向聚焦和能量(速度)聚焦;對于動能不同的離子，通過調節電場能，達到聚焦的目的。特點：分辨率高。
17 四級桿質量分析器 ：特點：結構簡單，體積小、重量輕，掃描速率快，適合與色譜聯機。
18 飛行時間質量分析器 ：特點：質量范圍寬，掃描速率快，既不需磁場也不需電場，只需要直線漂移空間。
19 離子阱質量分析器 ：特定m/z離子在阱內一定軌道上穩定旋轉，改變端電極電壓，不同m/z離子飛出阱到達檢測器。特點：結構簡單、易于操作、靈敏度高。
20 質譜的表示方法 ：質譜一般可用線譜或表譜兩種方法表示。常用線譜;線譜上的各條直線表示一個離子峰，橫坐標為質荷比m/z，縱坐標為離子的相對強度(相對豐度)，一般將原始質譜圖上最強的離子峰定為基峰并定為相對強度100%，其他離子峰以對基峰的相對百分值表示。能夠很直觀地觀察到整個分子的質譜全貌;質譜表是用表格形式表示的質譜數據，質譜表中有兩項即質荷比及相對強度。對定量計算較直觀。
21 質譜儀的分辨率 ：分辨率(R)指質譜儀能區別鄰近兩個質譜峰的能力。對兩個相等強度的相鄰峰，當兩峰間的峰谷不大于其峰高10%時，則認為兩峰已經分開。
22 質譜圖中主要離子峰的類型 ：分子離子峰、同位素離子峰、碎片離子峰、亞穩離子峰、重排離子峰。
23 相對分子質量的測定 ：分子離子峰的m/z相當于該化合物的相對分子質量。一般除同位素離子峰外，分子離子峰是質譜圖中最大質荷比的峰，位于質譜圖的最右端。
24 確認分子離子峰的方法 ：(1)分子離子峰必須符合氮數規則。有機化合物含有偶數個氮原子或不含氮原子，分子離子峰的m/z一定是偶數;含奇數個氮原子，分子離子峰的m/z一定是奇數。(2)分子離子峰與相鄰離子峰的質量差應合理，如不可能出現比分子離子峰質量小4～13個質量單位的峰。(3)當化合物中含S,Br, Cl時，可利用M+?, (M+2) +?等同位素離子峰的比例來確認分子離子峰。(4)改變質譜儀的操作條件，提高分子離子峰的相對強度。采用化學電離源或降低電子轟擊源電壓可獲得較強的M+峰。
25 氣相色譜-質譜聯用儀 ：質譜：純物質結構分析。色譜：化合物分離，定性能力差。色譜-質譜聯用：共同優點。GC-MS;LC-MS;CE-MS，色譜是質譜的進樣及分離系統;質譜是色譜的檢測器。主要問題：接口技術;除去色譜中大量的流動相分子。適用范圍：適用于揮發度低、難氣化、極性強、相對分子質量大及熱穩定性差的樣品。
26 無損檢測定義 ：無損檢測技術即非破壞性檢測，就是在不破壞待測物質原來的狀態、化學性質等前提下，為獲取與待測物的品質有關的內容、性質或成分等物理、化學情報所采用的檢查方法。
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